[1]马俊.一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法[J].计算机技术与发展,2007,(01):233-234.
MA Jun.A Reseeding BIST Way by Selecting Multiple- Cell[J].,2007,(01):233-234.
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一种选择多个单元的重新播种内建自测试方法(
)
《计算机技术与发展》[ISSN:1006-6977/CN:61-1281/TN]
- 卷:
-
- 期数:
-
2007年01期
- 页码:
-
233-234
- 栏目:
-
应用开发研究
- 出版日期:
-
1900-01-01
文章信息/Info
- Title:
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A Reseeding BIST Way by Selecting Multiple- Cell
- 文章编号:
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1673-629X（2007）01-0233-02
- 作者:
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马俊
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安庆师范学院教育技术系
- Author(s):
-
MA Jun
-
Educational Technology Dept., Anqing Teachers College
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- 关键词:
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内建自测试; 重新播种; 线性反馈移位寄存器; 混合测试
- Keywords:
-
built - in self- test; reseeding; linear feedback shift register; mixed- mode testing
- 分类号:
-
TN407
- 文献标志码:
-
A
- 摘要:
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随着集成电路技术的迅速发展，芯片的集成度越来越高，怎样对电路进行有效测试就显得越来越重要。其中内建自测试被认为是解决测试问题有效方法之一。文中提出了一种选择多个单元的重新播种BIST测试方法，实验结果表明该方法可以降低硬件开销
- Abstract:
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With the rapid development of IC technology, more and more cores are integrated into a chip. How to carry through the effective test looks more and more important. Built - In Self Test is one of the most effective ways to solve test problem. A reseeding Built - In Self - Test way by selecting multiple - cell is proposed, which shows low hardware overhead by experiments
备注/Memo
- 备注/Memo:
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安徽省教育厅自然科学项目（2006kj156c）马俊（1962-）．男．副教授，安徽安庆人，研究方向为VLSI
更新日期/Last Update:
1900-01-01